5月23日（木）13時30分から、ウェビナー「X線CT検査装置の新たなラミノグラフィー技術 Tilted CT」を開催いたします。
無料でご参加可能です。ぜひお申し込みください。
ウェビナー概要
ニコンの新たなラミノグラフィー技術「Tilted CT」を紹介いたします。
大型サイズ基板などの平らな部品やアスペクト比の高い部品を検査する際のボクセル解像度を大幅に向上させます。
また、従来のスキャンでは高密度領域がFOVに含まれ撮像しにくい形状の製品に対しても効果があり、品質管理の向上に貢献します。
- 事例紹介
アプリケーション #1 – 大型サイズ基板
アプリケーション #2 – 大型ラジエーター
アプリケーション #3 – コンパクトカメラ
アプリケーション #4 – ビルドプレート上のAM部品 - 導入効果
解像度の大幅向上
高画質
スキャン時間の短縮
＜製品ページ＞
X線/CT検査装置
