5月23日（木）13時30分から、ウェビナー「X線CT検査装置の新たなラミノグラフィー技術 Tilted CT」を開催しました。
ウェビナーのアーカイブ配信をご希望の場合は、下記問い合わせフォームよりお申し込みください。
※お断わりする場合もあります。
ウェビナー概要
ニコンの新たなラミノグラフィー技術「Tilted CT」を紹介いたします。
大型サイズ基板などの平らな部品やアスペクト比の高い部品を検査する際のボクセル解像度を大幅に向上させます。
また、従来のスキャンでは高密度領域がFOVに含まれ撮像しにくい形状の製品に対しても効果があり、品質管理の向上に貢献します。
- 事例紹介
アプリケーション #1 – 大型サイズ基板
アプリケーション #2 – 大型ラジエーター
アプリケーション #3 – コンパクトカメラ
アプリケーション #4 – ビルドプレート上のAM部品 - 導入効果
解像度の大幅向上
高画質
スキャン時間の短縮
＜製品ページ＞
Tilted CT：高解像度ラミノグラフィー検査
X線/CT検査装置
