Products and promotions may differ based on your selected region.
Tilted CT: Pemeriksaan Laminografi Beresolusi Tinggi
Resolusi, Kejernihan, Efisiensi
Tilted CT Nikon yang inovatif ini merupakan metode pemeriksaan laminografi X-ray yang menggunakan sumbu rotasi miring. Metode ini meningkatkan resolusi voxel secara signifikan untuk komponen dengan rasio aspek tinggi. Tilted CT menghasilkan peningkatan pembesaran dan volume 3D beresolusi lebih tinggi, dari ribuan gambar X-ray 2D. Detail halus yang sebelumnya tersembunyi atau tersamarkan dalam metode CT tradisional menjadi jelas. Pembesaran lebih tinggi, kejernihan meningkat, dan akuisisi data lebih efisien.
Sorotan Produk
Tilted Rotation (Rotasi Miring)
Berlawanan dengan CT 3D konvensional, Tilted CT menggunakan sumbu rotasi miring. Dikarenakan komponen dapat berputar lebih dekat ke sumber X-ray, maka komponen ini dapat fokus pada fitur berukuran hanya puluhan mikron, bahkan pada komponen datar berukuran lebih besar.
Isolasikan Area yang Diinginkan Secara Tepat
Irisan 2D dalam volume 3D Tilted CT memungkinkan isolasi komponen, untuk pemeriksaan non-destruktif yang lebih akurat. Rincian sangat kecil dan area kecil yang diinginkan akan tampak dan dapat diperiksa dengan lebih efektif dibandingkan dengan radiografi X-ray.
Fokus Bebas Hambatan
Tilted CT menyajikan tampilan komponen yang utuh dan tidak terhalang saat komponen berputar melalui berkas X-ray cone, sehingga mengurangi risiko overlay komponen pada rakitan yang rumit atau masking dari material dengan kepadatan tinggi.
Pemeriksaan Lebih Cepat dan Efisien
Objek planar dapat diperiksa dengan lebih andal dan efisien dalam waktu lebih singkat daripada menggunakan mikroskop X-ray. Dalam satu tes komparatif, pemindaian menggunakan mikroskop X-ray membutuhkan waktu lebih dari tujuh jam, sedangkan Tilted CT hanya membutuhkan waktu kurang dari satu jam.
Penerapan di Sektor Industri
Pertanyaan yang Sering Diajukan
Laminografi, yang juga dikenal sebagai Computed Laminography (CL), adalah jenis tomografi X-ray di mana sumbu rotasi sampel dimiringkan pada sudut oblique terhadap berkas X-ray (sumbu dari sumber ke detektor). Dengan cara serupa dengan CT, pemindaian laminografi menggunakan ribuan gambar radiografi X-ray yang diperoleh saat sampel berputar 360 derajat untuk merekonstruksi volume 3D. Analisis serupa yang dilakukan pada kumpulan data CT dapat direplikasi pada kumpulan data laminografi.
Baik radiografi maupun laminografi menawarkan gambar beresolusi sangat tinggi, karena sampel dapat diposisikan sangat dekat dengan sumber X-ray. Namun, sebagai teknik 2D, radiografi tidak memberikan kedalaman pada gambar dan sampel rumit dapat sulit untuk dicitrakan karena adanya komponen yang bertumpuk. Laminografi, sebagai teknik tomografi, memetakan kedalaman melalui ratusan atau ribuan bidang di seluruh sampel.
Keduanya adalah jenis tomografi X-ray, tetapi perbedaannya terletak pada orientasi di mana sampel berputar selama akuisisi. Sampel berputar di sekitar sumbu yang ortogonal terhadap berkas X-ray (sumbu dari sumber ke detektor) untuk CT, sedangkan untuk laminografi, sampel berputar di sekitar sumbu pada sudut miring terhadap berkas X-ray.
Secara teori, semua ukuran komponen dapat diperiksa dengan Tilted CT, namun ukuran komponen dan area pemeriksaan pada komponen akan terbatas oleh ukuran kabinet yang digunakan dan kepraktisan untuk memegang sampel secara stabil pada sudut miring. Sampel planar lebih dari 0,5 m, misalnya, mungkin akan sulit untuk dipegang selama akuisisi.
Semua jenis komponen dapat diperiksa dengan Tilted CT, tetapi teknik ini paling sering diterapkan pada komponen planar. Hal ini disebabkan karena pada CT konvensional, sifat aspek yang besar dari komponen planar meningkatkan panjang jalur X-ray di sepanjang bidang objek dan ukuran komponen menyebabkan sumbu rotasi diposisikan lebih jauh dari sumber X-ray untuk menghindari benturan. Tilted CT yang mampu mengatasi kedua fenomena tersebut, menjadikannya populer untuk planar.
Baik Tilted CT maupun mikroskop X-ray memiliki kemampuan untuk menghasilkan volume 3D beresolusi tinggi pada sampel besar. Meskipun mikroskop X-ray dapat mencapai pembesaran lebih tinggi daripada Tilted CT, namun masa akuisisi datanya memerlukan waktu beberapa jam lebih lama daripada Tilted CT scan. Mikroskop X-ray juga merupakan sistem khusus, yang berarti biayanya jauh lebih tinggi dan tidak menawarkan semua fleksibilitas seperti yang dimiliki oleh sistem CT X-ray Nikon, dengan teknik akuisisi radiografi dan CT yang menawarkan solusi untuk penerapan lain di laboratorium.
Produk Terkait
Penggunaan Inspect-X untuk CT 3D
Seri XT H
Analisis LiB.Overhang
Hubungi Kami Tentang Produk Ini
Untuk detail lebih lanjut mengenai produk ini, tim ahli kami akan memberikan informasi tambahan, dan akan mengatur kunjungan ke lokasi Anda bila diperlukan.
Konsultasikan detail proyek Anda kepada kami dan tim ahli kami akan memberikan saran mengenai sistem pemeriksaan terbaik sesuai kebutuhan Anda.
Silakan isi formulir berikut dan kami akan segera menghubungi Anda.
"Kolom ini wajib diisi." indicates required fields