Nikon memperkenalkan Seri NEXIV VMF-K, sistem pengukuran video berkinerja tinggi yang mampu meningkatkan throughput pengukura secara signifikan.
TOKYO – Nikon Corporation (Nikon) telah meluncurkan Seri NEXIV VMF-K, sistem pengukuran video generasi selanjutnya yang dirancang untuk memenuhi tuntutan pemeriksaan komponen semikonduktor dan elektronik yang kian meningkat.
Melanjutkan suksesnya Seri VMZ-K, Seri NEXIV VMF-K menawarkan manfaat signifikan bagi beraneka ragam industri selain manufaktur semikonduktor, termasuk pengemasan tingkat lanjut, produksi substrat, pemeriksaan wafer, dan pemeriksaan kartu probe.
Seiring semikonduktor menjadi lebih kecil dan lebih terintegrasi, proses pemeriksaan menjadi semakin krusial guna mempertahankan kualitas maintenance. Seri NEXIV VMF-K mengatasi tantangan ini dengan menawarkan pengukuran dimensi tingkat mikron yang stabil sekaligus meningkatkan throughput secara signifikan, sehingga mendukung pengendalian kualitas yang ketat dalam manufaktur perangkat semikonduktor.
Seri NEXIV VMF-K terbaru ini terdiri dari VMF-K3040, yang menggantikan VMZ-K3040, dan VMF-K6555, yang menggantikan VMZ-K6555.
Keunggulan utama dari Seri NEXIV VMF-K antara lain:
- Peningkatan throughput pengukuran: Seri VMF-K mencapai throughput pengukuran 1,5 kali lebih tinggi dibandingkan dengan model VMZ-K sebelumnya (berdasarkan ketentuan standar pengukuran Nikon), mengurangi waktu pengukuran dan mendongkrak produktivitas secara signifikan.
- Optik canggih: Dilengkapi sistem optik confocal, Seri VMF-K memungkinkan pengukuran 2D dan ketinggian secara bersamaan dalam ruang pandang, sehingga mencapai hasil yang jelas lebih tinggi dibandingkan pengukuran ketinggian yang hanya menggunakan gambar bidang terang.
- Sumber cahaya yang ditingkatkan: Sumber cahaya confocal yang telah diubah dari lampu xenon menjadi lampu LED, dapat meningkatkan masa pakai dari 3.000 jam menjadi 30.000 jam. Peningkatan ini meningkatkan efisiensi operasional dan mengurangi kebutuhan penggantian lampu.
- Jajaran model yang lebih beragam: Kini seri ini mencakup model lensa objektif 45x terstandardisasi, yang menjawab tuntutan akan pengukuran semikonduktor tingkat lanjut guna untuk pengukuran yang bahkan lebih akurat.
- Memenuhi persyaratan SEMI S2/S8: Seri VMF-K memenuhi standar keamanan industri untuk peralatan manufaktur semikonduktor jika dipasang dengan tepat sesuai dengan panduan SEMI S2/S8.
- Fitur baru perangkat lunak: Seri ini menawarkan fitur untuk menampilkan sisa waktu saat pengukuran.
- Desain eksterior terbaru: Seri ini dilengkapi desain ramping dengan paduan warna hitam dan perak.
“Kami dengan bangga mempersembahkan Seri NEXIV VMF-K, solusi terkemuka di industri yang menangani kebutuhan yang kian meningkat akan pengukuran berkecepatan tinggi yang lebih mendetail di bidang manufaktur komponen semikonduktor dan elektronik,” ucap perwakilan Nikon.
“Dengan meningkatkan hasil pengukuran dan mempertahankan akurasi tinggi, sistem baru kami mendukung para produsen untuk meningkatkan proses pengendalian kualitas mereka dan mempercepat pengembangan produk di tengah meningkatnya miniaturisasi dan integrasi perangkat semikonduktor.”
