Nikon Corporation (Nikon) telah mengumumkan rangkaian peningkatan komprehensif untuk Sistem X-ray dan CT Seri XT V, yang memperkuat posisi platform sebagai solusi kelas dunia untuk inspeksi komponen elektronik nondestruktif. Peningkatan ini memungkinkan operator mencapai kualitas gambar yang lebih baik, memindai sampel yang lebih berat, dan melindungi komponen sensitif dari kerusakan akibat pelepasan elektrostatis dan radiasi.
Peningkatan perangkat lunak dan lima peningkatan perangkat keras tersedia sebagai opsi upgrade untuk Seri XT V, memungkinkan pelanggan menyesuaikan sistem mereka sesuai dengan kebutuhan aplikasi masing-masing.
Peningkatan Perangkat Lunak:
- High.Contrast Filter 2.0: Menawarkan pencitraan yang jelas secara konsisten sehingga memastikan kerusakan segera terlihat. Dapat digunakan untuk setiap kombinasi bentuk dan densitas sampel.
Peningkatan Perangkat Keras:
- Baki Tugas Berat: Memungkinkan pemindaian komponen yang lebih besar dan lebih berat. Operator dapat memindai lebih banyak bagian dalam setiap batch dan memperluas kemampuan inspeksi.
- Jendela Optik Berlian: Menghadirkan peningkatan kontras gambar di seluruh rentang operasi, yang bermanfaat khususnya untuk sampel densitas rendah dan material campuran, sehingga menghasilkan lebih sedikit noise dan mempercepat pemindaian.
- Kolimator Dosis Rendah: Melindungi bagian elektronik yang sensitif terhadap radiasi dan meminimalkan dosis pada komponen sensitif seperti perangkat semikonduktor sekaligus memungkinkan inspeksi yang aman terhadap batch yang lebih besar.
- Peningkatan Keselamatan ESD: Menghadirkan inspeksi komponen elektronik sensitif yang aman ESD sesuai dengan standar IEC 6100-4-2, ANSI/ESD S20.20, dan JEDEC JESD625 saat dipasang di Area yang Dilindungi ESD (ESD-Protected Area/EPA), sehingga memungkinkan integrasi yang meyakinkan ke dalam proses yang aman ESD.
- Lengan CT Pembesaran Tinggi: Memungkinkan pemindaian CT dengan pembesaran yang lebih tinggi untuk sampel kecil, sehingga operator dapat melihat detail yang lebih kecil dari sebelumnya.
Seri XT V terus unggul dalam aplikasi inspeksi elektronik, termasuk PCB, BGA, chip, dan perangkat semikonduktor. Sistem ini mempertahankan sumber X-ray mikrofokus Xi dan kemampuan peningkatan gambar kuat yang terkemuka di pasaran, sementara peningkatan baru memberikan nilai tambahan bagi pelanggan di seluruh manufaktur elektronik, produksi semikonduktor, dan lingkungan kontrol kualitas.
Informasi lebih lanjut tentang Seri XT V yang ditingkatkan tersedia di situs web Nikon.
