GO
X
Nikon Metrology NV
Select Region
Select Your Region and Language
Products and promotions may differ based on your selected region.
Americas
English
Español
Europe & Africa
English
Deutsch
Français
Japan
日本語
Korea
한글
Chinese Mainland
简体中文
Indonesia
Bahasa Indonesia
Thailand
ภาษาไทย
Other Regions
English
Global
CT par rayons X
Laser Radar
Systèmes de mesure vidéo
Mesure manuelle
Microscopie industrielle
Produits
Centre de ressources
Support et services
Actualités
Événements et webinaires
À propos de Nikon
Carrières
Contacter Nikon Metrology
CT par rayons X
Laser Radar
Systèmes de mesure vidéo
Mesure manuelle
Microscopie industrielle
Produits
Centre de ressources
Support et services
Actualités
Événements et webinaires
À propos de Nikon
Carrières
Contacter Nikon Metrology
CT par rayons X
Laser Radar
Systèmes de mesure vidéo
Mesure manuelle
Microscopie industrielle
Nikon Metrology NV
Objectifs CFI 60
CFI L Plan EPI 2.5x, (NA/WD:0.075/8.8mm), MUE00031
CF L Plan Epi 40x, (NA/WD:0.65/1.0mm), MUE00400
CFI TU Plan FLUOR Epi 5x, (NA/WD:0.15/23.5mm), MUE12050
CFI TU Plan FLUOR Epi 10x, (NA/WD:0.30/17.50mm), MUE12100
CFI TU Plan FLUOR Epi 20x, (NA/WD:0.45/4.5mm), MUE12200
CFI TU Plan FLUOR Epi 50x, (NA/WD:0.80/1.0mm), MUE12500
CFI TU Plan FLUOR Epi 100x, (NA/WD:0.90/1.0mm), MUE12900
CFI TU Plan Fluor Epi P 5x (N.A. 0.15/W.D. 23.5mm), MUE13050
CFI TU Plan Fluor Epi P 10x (N.A. 0.3/W.D. 17.5mm), MUE13100
CFI TU Plan Fluor Epi P 20x (N.A. 0.45/W.D. 4.5mm), MUE13200
Afficher plus de résultats
Menu
