Tilted CT améliore l’inspection par rayons X de composants plats ou contenant des zones de grande densité.
La solution de mesure automatique des wafers prend en charge les mesures requises pour le contrôle des processus en aval.
Nikon lance un système polyvalent de CT par rayons X à grand volume, le premier de la prochaine génération de solutions d’inspection
Le scanner laser modernisé offre une précision, une résolution, une polyvalence et une efficacité accrues
L’intelligence artificielle accélère l’inspection de l’excédent d’anode des batteries Lithium-Ion à l’aide de la Tomographie Numérique (TN) par rayons X
Le nouveau logiciel Dual.Material CT de Nikon permet d’effectuer un scan par rayons X plus rapide pour améliorer les applications en production série
